Рентгеновский микроскоп nanoVoxel-2000
Описание
Уникальная система nanoVoxel-2000 — единственная на рынке система томографии, совмещенная с рентгеновским микроскопом. Томограф может быть опционально оснащен уникальным дополнительным модулем, состоящим из сцинтиллятора, который преобразовывает рентгеновские кванты в видимый свет системы увеличения с детектором. Это позволяет томографу выполнять функции рентгеновского микроскопа. Система увеличения оснащена револьверным механизмом для возможности установки увеличения на 2, 4, 10 или 20 крат. Данное решение позволяет улучшить разрешение с 500 до 50 нм. Корпус томографа предусматривает размещение крупногабаритных образцов. Размеры корпуса могут быть опционально увеличены для образцов большего размера..
Основные преимущества:
- разрешение объектов контроля от 50 нм благодаря специальному модулю с преобразованием и увеличением;
- возможность использования прибора в качестве рентгеновского микроскопа и рентгеновского томографа;
- возможность проведения метрологических измерений образцов;
- самый низкий предел допускаемой абсолютной погрешности при измерении линейных размеров среди всех систем, представленных на рынке (5 + L / 100 мкм, где L — длина объекта в мм);
- возможность установки рентгеновской трубки с высоким напряжением (до 160 кВ);
- специализированное ПО для 4D-томографии изделий (динамическое 3D-сканирование с разбивкой по времени для отображения изменений в образце), которое позволяет визуализировать процессы сжатия, растяжения, температурных испытаний и движения изделия.
Применение:
- измерение толщины стенок изделий с целью проведения метрологических исследований;
- исследование причин неисправностей и отказов готовых изделий;
- анализ пустот и включений в геологических объектах и изделиях из металлов, сплавов, и композитов;
- контроль целостности и правильности сборки готового изделия на конечном этапе производства и при входном контроле;
- исследование изменений плотности материалов изделий (по поверхности, глубине и т. д. в металлах, стеклах и пр.) после различных процессов термообработки;
- сравнение 3D-сканирования изделия с исходной моделью, созданной в САПР (CAD);
- обратный инжиниринг для создания САПР-модели (CAD-модели) по результатам томографии реального образца;
- моделирование различных испытаний (механических, тепловых, аэродинамических и т. д.) с математической обработкой методом конечных элементов;
- контроль качества сварных и паяных соединений;
- исследование структур геологических образцов для контроля различных фаз, литотипов, коллекторов;
- исследование петрофизических свойств горных пород;
- исследование плотности, пористости, однородности, изотропности и других характеристик геологических образцов.
| Обнаружительная способность, мкм | 0.2/0.04 |
|---|---|
| Максимальное пространственное разрешение системы томографии, мкм | 3/0.5 |
| Возможность установки рентгеновской трубки с двойной головкой (микрофокус, нанофокус) | Нет |
| Максимальное напряжение на рентгеновской трубке, кВ | 180 |
| Размер активной области детектора, мм | 244 × 195 |
| Разрешение матрицы детектора, пикс. | 1920 × 1536 |
| Шаг пикселя детектора, мкм | 7,4; 49,5; 85; 100; 127; 139 |
| Максимальный размер образца, мм (диаметр × высота) | 400 × 300 |
| Максимальная масса образца, кг | 15 |
| Соблюдение норм радиационной безопасности при работе с ИИИ | Менее 1 мкЗв/ч на расстоянии 10 см от поверхности томографа |
| Габариты томографа (Д × Ш × В), мм | 1620 × 1100 × 1700 |
| Вес, кг | 2400 |
| Материал | Бетон, Керамика, Композитные материалы, Металлы, Нефтяной керн, Пластики, Руда |